一、干法刻蚀核心机制与Showerhead角色
干法刻蚀通过等离子体中的活性气体与薄膜材料发生化学反应(化学刻蚀)或高能离子轰击(物理刻蚀),实现高精度图形转移。Showerhead(气体分配盘)作为关键部件,其均匀分布的微孔结构确保工艺气体以层流形式注入反应腔,避免局部浓度差异,从而提升刻蚀速率均匀性(±3%以内)和侧壁垂直度(>85°),是氧化物(Oxide)和氮化物(Nitride)薄膜刻蚀工艺稳定性的核心保障。
二、氧化物(SiO₂)刻蚀气体体系
1. 基础氟碳气体
o CF₄:基础刻蚀气体,解离产生F自由基(·F)与SiO₂反应生成SiF₄↑+O₂↑,刻蚀速率约1000-2000 Å/min,但侧壁粗糙度较高(Ra>5 nm)。
o CHF₃:引入·CF₂自由基在侧壁沉积氟碳聚合物层,抑制横向刻蚀。CF₄/CHF₃混合气体(比例3:1)可将各向异性比从1:1提升至5:1,侧壁垂直度优化至88°。
o C₄F₈:高温(>150℃)下解离为·CF₂,形成致密聚合物膜,对单晶硅(Si)的刻蚀速率降低超20倍,SiO₂/Si选择比达20:1以上,满足浅槽隔离(STI)工艺需求。
o SF₆:解离生成高密度F原子(浓度达10¹⁵ cm⁻³),是CF₄的3倍,适用于深槽刻蚀(槽深>1 μm),刻蚀速率800 Å/min,侧壁垂直度优于88°。
2. 辅助气体优化
o O₂:与氟碳气体反应生成COF₂和F原子,提升活性F浓度,使刻蚀速率增加30%-50%;但过量O₂(>15%)会氧化侧壁聚合物,导致各向异性下降。
o Ar:Ar⁺离子(能量100-500 eV)轰击表面,破除钝化层并增强方向性。加入30%-50% Ar后,各向异性比从3:1提升至8:1,但过量Ar(>60%)会导致硅基底损伤(表面粗糙度增加2-3 nm)。
o 典型配方:STI工艺采用CF₄(60%)/CHF₃(20%)/C₄F₈(10%) + O₂(8%) + Ar(35%),通过Showerhead均匀注入,实现槽深500 nm、侧壁倾斜角<85°的高精度刻蚀。
三、氮化物(Si₃N₄)刻蚀气体体系
1. 核心气体与选择比调控
o 传统氟碳气体(CF₄、CHF₃):对Si₃N₄刻蚀选择比低(SiO₂损耗速率达Si₃N₄的90%),导致硬掩模失效。
o H₂:关键添加剂,与F原子结合生成HF↑,降低活性F浓度,抑制对SiO₂的刻蚀。加入10% H₂可使Si₃N₄/SiO₂选择比从1:1提升至12:1,同时稀释等离子体减少聚合物残留,优化表面粗糙度(Ra从3 nm降至1.2 nm)。
o Cl₂:与Si₃N₄反应生成挥发性SiCl₄↑+2N₂↑,但需配合H₂使用(Cl₂比例15%-20%,H₂比例12%-15%)以平衡速率与选择比。
o SF₆:高F密度优势,与CHF₃混合实现深槽刻蚀,刻蚀速率800 Å/min,侧壁垂直度优于88°。
2. 辅助气体优化
o N₂:稀释等离子体减少聚合物沉积,使残留物密度从10¹¹ cm⁻²降至10⁹ cm⁻²。
o Ar:物理轰击破碎Si-N键,促进刻蚀反应。
o 典型配方:侧墙spacer刻蚀采用CHF₃(40%)/SF₆(30%) + H₂(12%) + N₂(25%) + Ar(20%),通过Showerhead精准控制气体分布,实现高选择比(Si₃N₄/SiO₂>10:1)与低残留(残留物<10⁹ cm⁻²)。
四、Showerhead对气体体系的协同优化
1. 微孔结构与气体混合效率:Showerhead的微孔直径(0.1-0.5 mm)和分布密度(100-500孔/cm²)直接影响气体混合均匀性。例如,采用激光打孔技术的Showerhead可将CF₄/O₂混合气体浓度波动控制在±2%以内,显著提升刻蚀速率重复性。
2. 温度控制与聚合物沉积:Showerhead表面温度(通常维持在50-100℃)通过热传导调节腔体温度,抑制氟碳聚合物在侧壁的过度沉积,避免“微掩模效应”导致的刻蚀停滞。
3. 工艺兼容性扩展:针对先进制程(如3D NAND、FinFET),Showerhead需支持多区温度独立控制(分区数≥4),以适配不同气体组合(如C₄F₈/O₂/Ar用于高深宽比刻蚀,CHF₃/SF₆/H₂用于氮化物选择性刻蚀)。
安徽博芯微半导体科技有限公司,为核心组件提供高精度Showerhead(喷淋头/匀气盘/气体分配盘)服务,产品主要包括Showerhead、Face plate、Blocker Plate、Top Plate、Shield、Liner、pumping ring、Edge Ring等半导体设备核心零部件,产品广泛应用于半导体、显示面板等领域,性能卓越,市场认可度高。
信息来源:
1. 《干法刻蚀技术深度解析》(与非网)
2. 《【微纳加工】最全总结!半导体干法刻蚀工艺气体选择指南》(微信公众平台·腾讯网)
《Showerhead设计对干法刻蚀均匀性的影响研究》(半导体国际期刊,2023)